„Europäische IC-Industrie schafft Souveränität“, „Autoindustrie gewarnt: Ende des Chipmangels ist nicht in Sicht“ und „Autonomes Fahren: Gefahr durch Hacker?“ sind nur einige der Schlagzeilen, die aktuell breite gesellschaftliche Beachtung finden und den fachlichen Kern der Fachgruppe „Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“ betreffen.

Das Forum für Experten*innen aus dem Bereich „Test und Zuverlässigkeit“ traf sich in diesem Jahr im ATLANTIC Hotel Sail City in Bremerhaven und somit in der 34-jährigen Historie des Forums erstmalig an der Nordseeküste. Hier veranstaltete die Fachgruppe von GI, ITG und GMM den jährlich stattfindenden Workshop. Der Workshop wurde vom 27. Februar bis 1. März 2022 als Präsenzveranstaltung – unter strenger Beachtung der Hygienevorschriften – erfolgreich durchgeführt.

In diesem Jahr nahmen 47 Teilnehmer*innen aus der Industrie und von Forschungseinrichtungen aus ganz Deutschland teil, um Ideen, Trends und Herausforderungen zu erörtern und zu diskutieren. Dieses Präsenzformat wurde sehr dankend angenommen, was die Relevanz eines solchen physischen Treffens für den wissenschaftlichen Austausch weiter unterstreicht.

Den Rahmen bildete ein Programm aus zwei eingeladenen Vorträgen (Keynotes), vier technischen Sitzungen sowie einem neuen Format bestehend aus zwei Pitch-Talk-Sitzungen mit verbundener Präsentation am Poster. Jeder eingereichte Beitrag wurde im Vorfeld durch ein Expert*innengremium vierfach begutachtet und selektiert, wodurch eine hohe Qualität der letztlich angenommenen Beiträge erzielt wurde. Im Gegensatz zu wissenschaftlichen Publikationen auf Konferenzen oder in Fachzeitschriften ist der Anspruch an die Workshop­Beiträge, auch Ideen und den Stand der Technik den Teilnehmer*innen vorzustellen.

Die Tagungsleitung des diesjährigen Workshops hatte Dr. Sebastian Huhn von der Universität Bremen und dem DFKI inne, den Vorsitz des Programmkomitees besaß Prof. Dr. Görschwin Fey von der Technischen Universität Hamburg und die lokale Organisation leitete Kristiane Schmitt (DFKI).

Die technischen Sitzungen beschäftigten sich unter anderem mit der Diagnose, Verifikation und Validation von Systemen, der Charakterisierung von Silizium und der Analyse von Fabrikationsfehlern zur Erhöhung der erzielbaren Ausbeute. Ferner wurden ebenfalls neue Anwendungen von formalen Methoden erörtert, um heuristische Ansätze mit exakten Techniken zu ergänzen.

Eine Keynote von Andreas Lentz, NXP Semiconductors, mit dem Titel „Can test bridge the last gap between safety and security?“ erörtere die Frage, warum die Sicherheit und der Schutz bei zukünftigen Automobilsystemen zwangsläufig Hand in Hand gehen müssen. Dafür wurden Implementierungen von Sicherheit und Schutz als koexistierende Funktionen innerhalb eines Automobilsystems eingeführt. Auf dieser Basis wurde gezeigt, wie jene zwei Aspekte vereinigt werden können, um nicht nur die notwendigen Anforderungen an Schaltkreise der nächsten Generation zu erfüllen, sondern ebenfalls den Kosten-Overhead zu reduzieren.

Die zweite Keynote wurde von Dr. Frank Sill Torres, Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR), mit dem Titel „Model-based resilience in the context of complex socio-technical systems“ gehalten. Seine Präsentation gab eine Einführung in das Konzept der Resilienz, welche sich aus technischer Sicht auf die Fähigkeit eines Systems konzentriert, externe und interne Störungen zu antizipieren und ihnen zu widerstehen, sich zu erholen und aus solchen Ereignissen zu lernen. Diese Sichtweise führte zu einem neuen Paradigma, d. h., ein Abrücken von dem klassischen Entwurfskriterium ausfallsicher und hin zu Safe-to-Fail Systemen, welche anhand von aktuellen Systembeispielen anschaulich eingeführt wurden.

Die Teilnehmer*innen nutzten die Anregungen des Programms zu weiteren Diskussionen während der Pausen und beim gemeinsamen Abendessen.

Der 35. Workshop TuZ 2023 wird nächstes Jahr vom 26. bis 28. Februar 2023 in Erfurt stattfinden. Als Organisatoren haben sich Prof. Dr. Mario Schölzel von der Hochschule Nordhausen und Prof. Dr. René Krenz-Baath von der Hochschule Hamm-Lippstadt zur Verfügung gestellt.

Detaillierte Informationen werden unter www.tuz-workshop.de zeitnah verfügbar sein. Auch dann wird dieser Workshop seinen Beitrag leisten, um Innovationen zu aktuellen Themen aus den Bereichen Zuverlässigkeit, Sicherheit und Test zu stimulieren und damit einen wichtigen Beitrag für die Souveränität des Standortes Deutschland bzw. der EU zu leisten.

Kontakt: Dr. Sebastian Huhn